智慧財產權物證鑑定是指依法取得有關智慧財產權司法鑑定資格的鑑定機構和鑑定人受司法機關或當事人委託，根據技術專家對本領域公知技術及相關專業技術的了解，並運用必要的檢測、化驗、分析手段，對被侵權的技術和相關技術的特徵是否相同或者等同進行認定；對技術轉讓契約標的是否成熟、實用，是否符合契約約定標準進行認定；對技術開發契約履行失敗是否屬於風險責任進行認定；對技術諮詢、技術服務以及其他各種技術契約履行結果是否符合契約約定，或者有關法定標準進行認定；對技術秘密是否構成法定技術條件進行認定；對其他智慧財產權訴訟中的技術爭議進行鑑定並提供鑑定結論的活動。
利用各種物理、化學檢測設備，通過物證分析，對智慧財產權爭議中涉及的技術問題進行鑑定，可以對新產品新技術進行創造性評價、對涉嫌侵權的技術是否屬於公知技術進行鑑定、對已取得的智慧財產權其合法性進行評估、對技術專利進行同一性鑑定等。
典型案例：
抄襲晶片專利智慧財產權遇索賠
國內某知名設計公司設計了一款晶片並申請了專利，投入市場後發現市場有疑似仿冒產品。通過法院委託華碧進行分析鑑定。華碧通過反向剖解技術進行顯微觀察比對發現該疑似仿冒品的版圖設計與該公司的專利的相似度極高。
