《晶體材料納米缺陷的電子顯微學》是依託上海大學,由周忠福擔任項目負責人的面上項目。
基本介紹
- 中文名:晶體材料納米缺陷的電子顯微學
- 項目類別:面上項目
- 項目負責人:周忠福
- 依託單位:上海大學
《晶體材料納米缺陷的電子顯微學》是依託上海大學,由周忠福擔任項目負責人的面上項目。
《晶體材料納米缺陷的電子顯微學》是依託上海大學,由周忠福擔任項目負責人的面上項目。中文摘要凝聚態材料的性能極大地依賴於其中的缺陷。為了闡明缺陷對材料性能的影響,我們必須首先充分掌握材料中缺陷的形態。晶體材料中尺寸大於5納...
本課題以闡明KDP晶體中存在的缺陷為研究亮點,以避免電子束輻照損傷KDP晶體為前提,發展一套對KDP晶體缺陷有效的新穎表征技術,綜合利用並最佳化基於透射電子顯微學的各類先進技術(電子能量損失譜、電子全息,高角環型暗場像、電子衍射和衍襯...
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小於0.2um的細微結構,這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構,就必須選擇波長更短的光源,以提高顯微鏡的解析度。1932年Ruska發明...
《原子層厚二維材料的定量電子顯微學表征》是依託華南農業大學,由林芳擔任項目負責人的面上項目。項目摘要 原子層厚二維晶體材料是近十年出現的重要納米材料,因其具有特殊光學、電學、磁學、機械性能等性質,套用前景廣泛,因此備受科學界...
高分辨電子顯微術是2011年公布的材料科學技術名詞。定義 利用透射電子顯微鏡將固體物質中原子排列投影成像的理論和技術。其分辨能力接近或達到原子尺度(約0.1nm)。對顯示材料結構納米尺度的變異及缺陷有獨到的優點。出處 《材料科學技術名詞...
《薄晶體電子顯微學》是1983年科學出版社出版圖書,作者是(英)赫什(P.Hirsch)。內容簡介 本書是世界電子顯微鏡及材料科學工作者公認的透射電子顯微術的經典著作,它簡明地介紹了透射電子顯微鏡的原理、結構、附屬檔案、各種成象方法和樣品製備...
主要從事多孔材料的合成和表征、生物分子自組裝礦化及電子顯微學結構研究。合成了多種新型功能化介孔材料及DNA-二氧化矽生物礦化材料,通過電子顯微學解析了多種材料的晶體結構、缺陷及共生、結構轉變機制及形成機理。已在Nat.Commun.,Chem....
利用電子顯微等微結構分析方法,研究劇烈塑性變形過程中微觀組織演化特徵,定量表征晶粒形態、晶粒尺寸及其分布與應變的關聯性;研究孿晶界面結構與晶體學取向隨應變的演化過程,定量表征孿晶系、孿晶密度、面間距等及其與應變、晶粒尺度的關聯...
晶體材料國家重點實驗室是我國首批建設的重點實驗室之一,1984年獲準在山東大學晶體材料研究所的基礎上建設,1987年通過驗收並正式對外開放,屬於套用基礎研究類國家重點實驗室。晶體材料國家重點實驗室已發展成為我國一個由材料學、凝聚態物理...
第3章 納米粒子的透射電子顯微分析與光譜分析 Zhong Lin Wang 3.1 透射電子顯微鏡 3.2 高解析度透射電鏡晶格成像 3.2.1 像的形成 3.2.2 襯度機制 3.2.3 像的解釋 3.2.4 圖像模擬 3.3 納米材料中的缺陷 ...
(3) 發展了多孔材料的電子晶體學結構解析研究。使用透射電子顯微學、超低電壓掃描電子顯微學,通過電子晶體學方法並與其他手段連用,對各種介孔晶體的形貌、結構、形成機理、共生及缺陷等進行了細緻的表征和解析,揭示了其結構和功能的關係...
5 用會聚束電子衍射測定晶體的對稱性 6 晶體與準晶體中位錯伯格斯矢量的CBED測定 7 晶體結構的CBED測定 8 應變場的CBED研究 參考文獻 A3 測定碳納米管原子結構的電子顯微學與電子衍射方法 1 引言 2 碳納米管的結構描述 3 碳納米管...
3.1.3 納米薄膜的XRD表征 3.2 納米材料結構的氣體吸附法表征 3.2.1 比表面積的BET法測定 3.2.2 孑L徑分布測定 3.3 納米材料結構的顯微觀察 3.3.1 納米材料結構的電子顯微觀察 3.3.2 納米材料結構表征的STM和AFM技術 3....
2001.11-2004.12 博士,德國Martin-Luther. Univ. & 馬普微結構物理所;研究方向:透射電子顯微學及電子能損譜學 2005.04-2007.03 博士後,北京大學物理學院;研究方向:納米材料的電子顯微學表征 2007.03-現在,北京大學物理學院...