《數字芯核電路著作權保護技術與套用》2015年東南大學出版社出版的圖書,作者是梁偉。
基本介紹
- 書名:數字芯核電路著作權保護技術與套用
- 作者:梁偉著
- ISBN:9787564155858
- 定價:¥32元
- 出版社:東南大學出版社
- 出版時間:2015年4月
- 開本:32
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
本書主要內容為芯核電路智慧財產權保護的關鍵技術,主要包括基於混沌映射的芯核水印、基於FSM時間約束的芯核水印、現場可測試的芯核水印、分散隱藏策略的高容量芯核水印、零知識芯核水印盲檢測以及隱秘信息自恢復雙重芯核水印等方案內容。全書內容共四篇,總計九章。
圖書目錄
前言(1)
第一篇芯核水印技術基礎(1)
1緒論(2)
1.1研究意義(2)
1.2研究背景(4)
1.3研究現狀(6)
1.3.1FPGA芯核水印技術(6)
1.3.2FSM芯核水印技術(9)
1.3.3可測試芯核水印技術(10)
1.4本書主要工作及結構(11)
2IP水印技術概述(18)
2.1數字IP設計基礎(18)
2.1.1IP的定義和分類(18)
2.2.2FPGA概述(21)
2.2.3FPGA內部結構(23)
2.2.4FPGA的基本開發流程(27)
2.2數字IP水印概念(29)
2.2.1數字芯核水印特點(32)
2.2.2面臨的困難和挑戰(36)
2.3數字芯核著作權保護技術(38)
2.3.1晶片標籤加密技術(39)
2.3.2PUF物理著作權保護技術(40)
2.4數字芯核水印檢測技術(43)
2.4.1數字芯核水印檢測需求分析(43)
2.4.2芯核水印安全檢測分析(44)
2.4.3水印性能的評估(45)
2.5工程設計流程與開發環境(46)
2.5.1ISE的設計流程(46)
2.5.2Modelsim的功能仿真(48)
2.5.3FPGA綜合工具Synplify(49)
2.6本章小結(51)第二篇芯核水印關鍵技術(53)
3基於混沌映射技術的芯核水印方案(55)
3.1引言(55)
3.2混沌理論數學模型(57)
3.3混沌映射的芯核水印化過程(58)
3.3.1LUT水印嵌入原理(59)
3.3.2混沌芯核水印嵌入(60)
3.3.3混沌芯核水印提取(61)
3.4性能分析及仿真(62)
3.4.1性能分析(62)
3.4.2實驗仿真(63)
3.5實驗結果比較(64)
3.5.1資源開銷性能(65)
3.5.2物理布局性能(66)
3.6本章小結(68)
4基於FSM特徵的芯核水印方案(69)
4.1引言(69)
4.2問題描述和定義(71)
4.3水印嵌入原理(72)
4.4FSM芯核水印實現過程(75)
4.5FSM芯核水印設計實例(77)
4.5.1水印生成(77)
4.5.2水印嵌入(78)
4.5.3水印提取(79)
4.5.4水印驗證(80)
4.6算法性能分析(81)
4.6.1安全性(81)
4.6.2可檢測性(82)
4.7實驗結果分析與比較(84)
4.7.1仿真測試結果分析(84)
4.7.2抗攻擊性能分析(85)
4.7.3測試結果比較與評估(87)
4.8本章小結(88)
5現場可測試多掃描鏈芯核水印方案(90)
5.1引言(90)
5.2向量相關度數學模型(91)
5.3多掃描鏈芯核水印方法(95)
5.3.1總體設計思想(95)
5.3.2多掃描鏈水印結構(96)
5.4多掃描鏈芯核水印算法設計(98)
5.4.1多掃描鏈芯核水印嵌入(98)
5.4.2多掃描鏈芯核水印檢測(101)
5.5實驗結果及性能分析(103)
5.5.1資源開銷驗證(103)
5.5.2可靠性實驗分析(107)
5.5.3抗攻擊性能(109)
5.6本章小結(110)
6高容量FPGA芯核水印方案(112)
6.1設計目標(112)
6.2相關數學模型建立(113)
6.2.1精簡壓縮模型(113)
6.2.2分散隱藏策略模型(114)
6.3芯核水印算法流程(115)
6.4基本算法(116)
6.4.1芯核水印生成算法(117)
6.4.2芯核水印加密算法(118)
6.4.3芯核水印預處理算法(120)
6.4.4算法的實現過程(121)
6.4.5芯核水印嵌入算法(122)
6.4.6芯核水印提取算法(127)
6.5算法分析(129)
6.5.1可信度分析(129)
6.5.2透明性分析(130)
6.5.3性能開銷分析(130)
6.6實驗結果(130)
6.6.1仿真測試結果(130)
6.6.2物理布局結果(131)
6.7性能分析與比較(132)
6.7.1水印容量(132)
6.7.2額外開銷(133)
6.7.3安全性分析(136)
6.8本章小結(136)第三篇IP水印檢測與認證方案(139)
7基於零知識證明協定的芯核水印盲檢測方案(141)
7.1引言(141)
7.2零知識互動證明ZKP協定(143)
7.2.1初始化階段(143)
7.2.2鑑別階段(143)
7.2.3完備性、公正性和零知識性證明(144)
7.3零知識芯核水印算法(146)
7.3.1零知識水印生成(147)
7.3.2零知識水印嵌入(148)
7.3.3零知識水印提取(148)
7.4基於零知識證明協定的芯核水印盲檢測算法(149)
7.4.1整體置亂(149)
7.4.2分塊置亂(151)
7.4.3水印檢測(153)
7.4.4算法性能分析(156)
7.5實驗結果及分析(157)
7.5.1水印檢測穩定性分析(157)
7.5.2安全分析(160)
7.6本章小結(163)
8基於隱秘內容自恢復機制的芯核水印認證方案(164)
8.1引言(164)
8.2雙重IP水印生成(165)
8.3自恢複數學模型(166)
8.3.1恢復原理(166)
8.3.2映射關係(167)
8.4自恢復雙重芯核水印認證方法設計(168)
8.4.1雙重水印嵌入(168)
8.4.2雙重水印提取(170)
8.4.3雙重水印恢復(170)
8.5實驗結果分析與比較(172)
8.5.1算法安全性能分析(172)
8.5.2物理布局效果圖(174)
8.5.3水印嵌入容量(175)
8.5.4水印自恢復能力評估(176)
8.6本章小結(177)第四篇數字IP水印實例設計與實現(179)
9數字IP水印原型系統(180)
9.1測試環境設定(181)
9.2混沌IP水印(181)
9.3時間約束IP水印(183)
9.4自恢復雙重芯核水印系統(186)
9.5零知識芯核水印認證系統(190)
9.6系統性能分析測試(195)
9.7本章小結(197)
5.1引言(90)
5.2向量相關度數學模型(91)
5.3多掃描鏈芯核水印方法(95)
5.3.1總體設計思想(95)
5.3.2多掃描鏈水印結構(96)
5.4多掃描鏈芯核水印算法設計(98)
5.4.1多掃描鏈芯核水印嵌入(98)
5.4.2多掃描鏈芯核水印檢測(101)
5.5實驗結果及性能分析(103)
5.5.1資源開銷驗證(103)
5.5.2可靠性實驗分析(107)
5.5.3抗攻擊性能(109)
5.6本章小結(110)
6高容量FPGA芯核水印方案(112)
6.1設計目標(112)
6.2相關數學模型建立(113)
6.2.1精簡壓縮模型(113)
6.2.2分散隱藏策略模型(114)
6.3芯核水印算法流程(115)
6.4基本算法(116)
6.4.1芯核水印生成算法(117)
6.4.2芯核水印加密算法(118)
6.4.3芯核水印預處理算法(120)
6.4.4算法的實現過程(121)
6.4.5芯核水印嵌入算法(122)
6.4.6芯核水印提取算法(127)
6.5算法分析(129)
6.5.1可信度分析(129)
6.5.2透明性分析(130)
6.5.3性能開銷分析(130)
6.6實驗結果(130)
6.6.1仿真測試結果(130)
6.6.2物理布局結果(131)
6.7性能分析與比較(132)
6.7.1水印容量(132)
6.7.2額外開銷(133)
6.7.3安全性分析(136)
6.8本章小結(136)第三篇IP水印檢測與認證方案(139)
7基於零知識證明協定的芯核水印盲檢測方案(141)
7.1引言(141)
7.2零知識互動證明ZKP協定(143)
7.2.1初始化階段(143)
7.2.2鑑別階段(143)
7.2.3完備性、公正性和零知識性證明(144)
7.3零知識芯核水印算法(146)
7.3.1零知識水印生成(147)
7.3.2零知識水印嵌入(148)
7.3.3零知識水印提取(148)
7.4基於零知識證明協定的芯核水印盲檢測算法(149)
7.4.1整體置亂(149)
7.4.2分塊置亂(151)
7.4.3水印檢測(153)
7.4.4算法性能分析(156)
7.5實驗結果及分析(157)
7.5.1水印檢測穩定性分析(157)
7.5.2安全分析(160)
7.6本章小結(163)
8基於隱秘內容自恢復機制的芯核水印認證方案(164)
8.1引言(164)
8.2雙重IP水印生成(165)
8.3自恢複數學模型(166)
8.3.1恢復原理(166)
8.3.2映射關係(167)
8.4自恢復雙重芯核水印認證方法設計(168)
8.4.1雙重水印嵌入(168)
8.4.2雙重水印提取(170)
8.4.3雙重水印恢復(170)
8.5實驗結果分析與比較(172)
8.5.1算法安全性能分析(172)
8.5.2物理布局效果圖(174)
8.5.3水印嵌入容量(175)
8.5.4水印自恢復能力評估(176)
8.6本章小結(177)第四篇數字IP水印實例設計與實現(179)
9數字IP水印原型系統(180)
9.1測試環境設定(181)
9.2混沌IP水印(181)
9.3時間約束IP水印(183)
9.4自恢復雙重芯核水印系統(186)
9.5零知識芯核水印認證系統(190)
9.6系統性能分析測試(195)
9.7本章小結(197)
結束語(198)
參考文獻(200)
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