《數字系統小延遲缺陷診斷及測試- - 理論與方法》是依託清華大學，由向東擔任項目負責人的面上項目。
基本介紹
- 中文名：數字系統小延遲缺陷診斷及測試- - 理論與方法
- 依託單位：清華大學
- 項目負責人：向東
- 項目類別：面上項目
項目摘要,結題摘要,
項目摘要
小延遲缺陷（SDD）是數字系統高度集成化的必然產物。SDD是指延遲故障的延遲量很小，不容易被ATE識別。測試要求將故障效應沿著通過每一信號線的長路徑傳播。當路徑延遲及SDD的延遲量和大於時鐘周期時，該缺陷就被檢測到。小延遲缺陷的診斷仍然是空白，測試集要求能夠識別小延遲缺陷的位置。通過獲取的信息指導修正現有的設計及生產流程，因而提高成品率。本項目擬提出不同的SDD診斷方法：（1）基於路徑識別的診斷測試碼產生方法，及（2）基於缺陷機率的故障診斷。基於缺陷機率的SDD診斷是通過缺陷機率分析來引導故障點的識別。基於路徑識別的故障診斷是通過新的SDD基於診斷的測試碼產生來實現的。後者涉及路徑識別，診斷測試碼產生及故障點確認等。診斷測試集合會控制得足夠小。本項目還將提出有效的SDD測試精簡策略及測試壓縮技術。本項目還將考慮一些動態因素，如溫度及電壓等對路徑延遲的影響，基於此提出一種新的SDD測試方法。
結題摘要
本項目在小延遲缺陷的測試精簡，熱驅動的小延遲缺陷測試測試及降低熱突發事件的DFT設計技術，三維IC熱驅動測試，延遲測試測試壓縮及轉換延遲故障的測試精簡做出 了深入細緻的工作。小延遲缺陷測試精簡含高效的最長可測試路徑選擇，該算法不需要回溯就能完成最長可測試路徑選擇。基於選擇的路徑集合提出了一種高效的測試精簡 算法。三維熱驅動測試策略提出一種新的測試排序方法可有效地降低峰值溫度。小延遲缺陷測試的熱突發事件是指由於測試過程中溫度的變化引起的過測試。熱驅動小延遲 測試提出一種新的小延遲測試排序策略及一種新的熱驅動路徑選擇算法可有效地降低熱突發事件，但不能從根本上解決該問題。本項目提出一種新的熱驅動DFT結構及測試方法可以從根本上解決小延遲缺陷測試的熱突發事件問題。轉換故障的測試精簡是基於測試影響範圍來實現的。該方法在一種新的度量的引導下實現測試碼產生及測試精 簡。
