《數字積體電路與嵌入式核心系統可測試性設計》是2004年中國電力出版社出版的圖書，作者是AlfredL.Crouch。
基本介紹
- 作者：Alfred L.Crouch
- ISBN：9787508319049
- 頁數：376
- 定價：48.0
- 出版社：中國電力出版社
- 出版時間：2004-1-1
- 裝幀：平裝(無盤)
內容介紹
書中包括的索引使你能夠根據自己的需要，直接閱讀你所關注的內容。主要內容包括：設計核心，關注嵌入核心和嵌入存儲器；系統集成和超大規模積體電路的設計問題；AC掃描、正常速度掃描和嵌入式可測試性設計；內建、自測試、含記憶體BIST、邏輯BIST及掃描BIST；虛擬測試套接字和隔離測試
·重用設計，包括重用和隔離測試；用VSIA和IEEE P1500標準處理測試問題。
書中穿插的整幅圖解直接來自作者的教學材料。通過為書中的第一部分列出流程圖、工程圖表和內容接要，使得讀者能夠更快更容易地學習和查找。本書是與設計和測試工作相關的工程師和管理員所備的資料書籍。
