《數字積體電路測試最佳化——測試壓縮、測試功耗最佳化、測試調度》是科學出版社出版的圖書，作者是李曉維,韓銀和,胡瑜,李佳。
基本介紹
- 中文名：數字積體電路測試最佳化——測試壓縮、測試功耗最佳化、測試調度
- 作者：李曉維、韓銀和、胡瑜、李佳
- 出版社：科學出版社
- 出版時間：2010年6月
- 頁數：344 頁
- 定價：58 元
- 裝幀：精裝
- ISBN：9787030278944
內容簡介
本書內容涉及數字積體電路測試最佳化的三個主要方面：測試壓縮、測試功耗最佳化、測試調度。包括測試數據壓縮的基本原理，激勵壓縮的有效方法，測試回響壓縮方法和電路結構；測試功耗最佳化的基本原理，靜態測試功耗最佳化方法，動態測試功耗最佳化；測試壓縮與測試功耗協同最佳化方法；測試壓縮與測試調度協同最佳化方法；並以國產64位高性能處理器（龍芯2E和2F）為例介紹了相關成果的套用。
全書闡述了作者及其科研團隊自主創新的研究成果和結論，對致力於數字積體電路測試與設計研究的科研人員(尤其是在讀研究生)具有較大的學術參考價值，也可用作積體電路專業的高等院校教師、研究生和高年級本科生的教學參考書。
