《數字積體電路容錯設計——容缺陷/故障、容參數偏差、容軟錯誤》是2011年4月科學出版社出版的圖書，作者是李曉維、胡瑜、張磊、鄢貴海。
基本介紹
- 中文名：數字積體電路容錯設計——容缺陷/故障、容參數偏差、容軟錯誤
- 出版時間：2011年04月
- 出版社：科學出版社
圖書目錄,
定價：68.00 | 語種：中文 | |
標準書號：978-7-03-030576-3 | 裝幀：精裝 | |
版本：第一版 | 開本：B5 | |
責任編輯：劉寶莉 | 字數：546千字 | |
讀者對象：本科以上文化程度 | 頁數：433 | |
書類：理論專著/研究生教育 | 冊/包： | |
編輯部： 工程技術分社 | ||
附註： | ||
本書目錄
專家評論
讀者評論
我要留言
本書主要內容涉及數字積體電路容錯設計的三個主要方面：容缺陷（和故障）、容參數偏差以及容軟錯誤；包括3S技術（自測試、自診斷、自修復）的基本原理。從嵌入式存儲、多核處理器和片上網路三個方面論述了缺陷（故障）容忍方法；從參數偏差容忍的角度，論述了抗老化設計和參數偏差容忍設計方法；從處理器和片上網路兩個層次論述了軟錯誤容忍方法；並以國產具有自修復功能的單核及多核處理器為例介紹了相關成果的套用。本書的特點是兼具先進性和實用性，系統性強，體系新穎。
本書適合於從事積體電路（與系統）容錯設計方向學術研究，以及積體電路EDA工具開發和套用的科技人員參考；也可用作積體電路與半導體專業的高等院校教師、研究生和高年級本科生的教學參考書。
圖書目錄
FOREWORD
前言
第1章 緒論
第2章 嵌入式存儲器的容缺陷設計
第3章 多核處理器的容缺陷設計
第4章 片上網路路由器容錯設計
第5章 片上網路容錯路由
第6章 數字電路的複合故障診斷方法
第7章 處理晶片的抗老化設計
第8章 多核處理器容參數偏差設計
第9章 處理器的容軟錯誤設計
第10章 片上網路容軟錯誤通信方法
第11章 微體系結構級可靠性評估方法
第12章 處理器晶片的容錯設計實例
第13章 總結與展望
索引
