數字積體電路容錯設計——容缺陷/故障、容參數偏差、容軟錯誤

	定價：68.00	語種：中文
	標準書號：978-7-03-030576-3	裝幀：精裝
	版本：第一版	開本：B5
	責任編輯：劉寶莉	字數：546千字
芝笑說槓	讀者對象：本科以上文化程度	頁數：433
	書妹旬嫌類：理論專著/研究生教育	冊/包：
	編輯部：工程技術分社
	附註：

內容簡介

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本書主要內容涉及數字積體電路容錯設計的三個主要方面：乃漏容缺局才狼陷（和故障）、容參數偏差以及容軟錯誤；包括3S技術（自測試、自診斷、自修復）的基本原理。從嵌入式存儲、多核處理器和片上網路三個方面論述了缺陷（故障）容忍方法；從參數偏差容忍的角度，論鞏坑禁述了抗老化設計和參數偏差容忍設計方法；從乃膠腳蘭處理器和片上網路兩個層次論多龍己述了軟錯誤容忍方法；並以國產具有自修復功能的單核及多核處理器為例介紹了相關成果的套用。本書的特點是兼具先進性和實用性，系統性強，體系新穎。
本書適合於從事積體電路（與系統）容錯設計方向學術研究，以及積體電路EDA工具開發和套用的科技人員參考；也可用作積體電路與半導體專業的高等院校教師、研究生和高年級本科生的教學參考書。

數字積體電路容錯設計——容缺陷/故障、容參數偏差、容軟錯誤

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