掠射角x射線衍射法

掠射角x射線衍射法（glancing angle x-ray diffraction）是採用T掠射角幾何條件（入射角；s0）的x射線衍射法。

基本介紹

• 中文名：掠射角x射線衍射法
• 外文名：glancing angle x-ray diffraction

以掠射角入射的x射線束的穿透力被限制，大大提高了分析樣品的表面分析靈敏度，且能分析體積相對較大的樣品，甚至薄層分析也成為可能。該技術適用於特殊晶相的識別，微晶方位及其尺寸分布的研究，吸附原子位置的測定;與電子衍射法相比_具有較高的角解析度。