《掃描方法在粲偶素遍舉衰變截面譜實驗中的套用研究》是依託南開大學，由趙明剛擔任項目負責人的青年科學基金項目。
基本介紹
- 中文名：掃描方法在粲偶素遍舉衰變截面譜實驗中的套用研究
- 項目類別：青年科學基金項目
- 項目負責人：趙明剛
- 依託單位：南開大學
中文摘要,結題摘要,
中文摘要
一般在粲偶素遍舉衰變的分支比測量實驗中，只是利用峰值附近採集的數據進行測量，這對分支比較大的衰變過程是合適的。但對於某些分支比非常微小的衰變模式，由於其產生截面很低，使得我們不能簡單忽略掉共振態產生過程與連續產生過程之間的干涉，若仍由峰值數據測量其分支比的話，則得到的分支比數值必然偏離真實的物理結果。實驗上，處理這些未知干涉問題的最好方法就是對觀測截面隨能量變化的譜形進行整體擬合，以同時得到真實的分支比和干涉相角等信息。本項研究中，基於BES-III實驗即將採集的大統計量掃描樣本，通過對NKLambda觀測截面譜形的研究，我們將探索掃描方法在粲偶素遍舉衰變截面譜實驗中的套用，同時可以獲得psi3770遍舉非DDbar衰變分支比和NLambda閾值附近可能存在的重奇異介子的某些信息。這樣，本項研究在探索掃描方法套用的同時，還能得到很多有重要意義的物理結果，而且這些結果都是首次測量。
結題摘要
我們首先通過蒙卡模擬方法對使用掃描方法測量粲偶素遍舉衰變的分支比進行了研究，之後根據BESIII實驗的取數計畫對本項研究進行了調整。調整後的研究內容如下: (1) 利用盲分析方法，在J/ψ衰變產物中尋找輕子味道破壞的eμ過程；(2) 通過ψ(3686) → π0hc , hc→γηc 過程，研究粲偶素P波單態hc和S波單態ηc的共振參數及譜形；(3)利用盲分析的方法，在帶電D介子的衰變產物中尋找味道改變中性流與輕子數破壞過程；(4) χcJ→K0K0π0π0過程的實驗研究及同位旋守恆和色八重態機制的檢驗；(5) 利用盲分析方法，在中性D介子衰變中尋找味道改變中性流和輕子味道破壞過程；(6) 輕子味道普適性在BESIII和tau-粲工廠上的檢驗(理論工作)；(7) 利用BES或tau-粲工廠數據尋找D0→μ+μ-,e+e-,μ+/-e-/+衰變中的新物理(理論工作)。以上7項工作已經全部完成，其中(1)(2)(6)(7)項的研究成果已經發表，(3)(4)(5)項即將進入BES內部審稿階段。
