技術測量基礎

技術測量基礎

《技術測量基礎》是2018年科學出版社出版的圖書,作者是張翠香。

基本介紹

  • 中文名:技術測量基礎
  • 作者:張翠香
  • ISBN:9787030589422
  • 出版社:科學出版社
  • 出版時間:2018-11
內容簡介,圖書目錄,

內容簡介

本書根據中等職業學校機械專業規範、培養方案和課程教學大綱的要求,結合機械類“3+4”貫通培養教學大綱的要求編寫而成。
本書包括緒論、測量基礎知識及常用量具、極限與配合基礎、幾何公差、表面缺陷與表面粗糙度、尺寸鏈基礎、階段性實訓共7章內容,採用最新國家標準,重點分析標準和公差,運用大量的圖表來說明各種幾何量公差的含義,結合檢測技術的套用,判斷零件的合格性。

圖書目錄

第1章緒論
第2章測量基礎知識及常用量具
第3章極限與配合基礎(GB/T1800與GB/T1804)
第4章幾何公差(GB/T1182-2008)
第5章表面缺陷與表面粗糙度
第6章尺寸鏈基礎
第7章階段性實訓
參考文獻

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