恆星干涉儀

恆星干涉儀：利用干涉原理測量恆星角直徑和雙星角距離的光學儀器。分辨本領極高。有相位相關干涉儀和強度干涉儀兩種。它具有極高的分辨本領。

1920年,邁克耳孫最先設計了一架恆星干涉儀,能測量到0獎02的角度。如圖所示，恆星的光被平面鏡B、B、A、A反射到望遠鏡里；若恆星是點光源，在望遠鏡焦平面P上，星像是B鏡圓孔衍射和雙光束干涉迭加的圖樣。對於雙星則應有兩組圖樣。調節距離D,當兩組干涉條紋互相抵消時，雙星的角距就等於λ/2D,λ是星光的有效波長。對於角直徑為β的恆星圓面，當條紋消失時,β=1,22λ/D。這種干涉儀叫作相位相關干涉儀。後來製成另一種恆星干涉儀，叫作強度干涉儀。它用兩架距離 200米的大口徑組合光學望遠鏡代替上述兩塊 B鏡，用光電倍增管接受星光。光電倍增管接受到的信號強度是相關的。改變兩架望遠鏡間的距離，可把觀測的結果歸算為恆星的角大小。這種儀器的分辨角小到0獎0004。由於需要大量的光子才能獲得有意義的相關性，所以,即使採用口徑大到6米的望遠鏡，也僅能觀測亮於2等的恆星。