微波信號記錄與參數測試系統

微波信號記錄與參數測試系統

微波信號記錄與參數測試系統是一種用於信息科學與系統科學領域的電子測量儀器,於2015年11月24日啟用。

基本介紹

  • 中文名:微波信號記錄與參數測試系統
  • 產地:美國
  • 學科領域:信息科學與系統科學
  • 啟用日期:2015年11月24日
  • 所屬類別:電子測量儀器 > 射頻和微波測試儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

任意波形信號發生器:(1)14bit解析度;(2)從 125 MSa/s 至 12 GSa/s 的可變採樣率;(3)80 dBc 典型值的無雜散動態範圍(SFDR);(4)-72 dBc 典型值的諧波失真 (HD);(5)2 GSa 任意波形存儲器/通道,具有高級排序功能;(6)5 GHz 模擬頻寬(直接 DAC 輸出);支持 WiGig、無線 HD 和 IEEE802.11ad 等標準;高速數據記錄系統:(1)1.5 GHz頻寬,最大採樣速率達5 GS/s;(2)設備至主機的數據傳輸率>600 MB/s;(3)四通道採集速率為1.25 GS/s;每個通道可配置50Ω或1MΩ的輸入阻抗路徑;單槽3U PXI Express組成結構;2 GB的大容量板載記憶體;(4)含8槽PXI Express機箱,Core 2.3GHz控制器、Win7作業系統;(5)240V、10A電源卡。

主要功能

功能:微波信號採集、存儲、測試;微波系統噪聲、功率、阻抗分析; 使用範圍:微波系統參數採集、存儲及測試。

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