平均失效時間

平均失效時間是衡量元器件和電路可靠性的一個參量，人們總是要求平均失效時間越長越好。

當故障產品單元的修理時間相對於MTTF非常短以至於可以忽略時，MTTF可約等於平均故障間隔時間(Mean Time Between Failure,MTBF)。當故障產品單元的修理時間不能忽略時，MTBF還包含平均維修時間(Mean Time to Repair，MTTR)。

基本介紹

• 中文名：平均失效時間
• 外文名：Mean time if failure
• 簡稱：MTTF
• 別稱：中值失效時間
• 定義：描述材料抗電遷移的能力
• 套用學科：計算機原理

概述

目前對元件的失效都採用統計方法。在電遷移時，由統計法求出平均失效時間MTTF(Meam Time to failure)。並用它來描述材料抗電遷移的能力，顯然MTTF越大，則越佳。有時平均失效時間也可以指中值失效時間。MTTF表示在同樣試驗條件下，使同一種薄膜材料的電阻增大一倍所需的時間。

MTF與電流密度

MTTF與很多因素有關，其中最重要的是電流密度，一般可以表示為：

n稱電流密度指數,是一個很重要的量，它與薄膜工作溫度、溫度梯度以及薄膜的幾何形狀等因素有關。n的數值為1~10,在加速壽命試驗中，n值的大小直接影響外推正常工作條件下的壽命。實際上n與電流密度也有關係，因為電流密度越大，焦耳熱就越大,在導電帶中形成的溫度涕度也越大,也就越容易發生電遷移。

一般來說，在低電流密度下,可認為n=1;隨著電流密度的增加,n=1.5~2;在很強的電流密度下，n=6~7。

MTF規律

鋁膜的MTTF有如下規律:

1、MTTF隨導電帶長度增加而減小。

2、導電頻寬度在0.2~1mm的範圍內，MTTF隨寬度的增加而增大;

3、晶粒尺寸變化保持一定的情況下，MTTF隨平增晶粒尺寸的增大而增大;

4、如果晶粒平均尺寸保持不變，MTTF隨晶粒尺寸分布範圍增寬而減小。