工藝礦物學自動分析儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2017年9月25日啟用。
基本介紹
- 中文名:工藝礦物學自動分析儀
- 產地:德國
- 學科領域:工程與技術科學基礎學科
- 啟用日期:2017年9月25日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 圖像分析儀
工藝礦物學自動分析儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2017年9月25日啟用。
工藝礦物學自動分析儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2017年9月25日啟用。技術指標·礦物組成及含量。 ·產品磨礦粒度分布。 ·礦物嵌布粒度分布。 ·目標礦物解離度(基於目標礦物質量百分數)。 ·目標...
自動礦物分析系統是一種用於地球科學、材料科學、化學領域的分析儀器,於2018年1月1日啟用。技術指標 (1)分析元素範圍:Be4 - Pu94; (2)解析度:優於127eV (在Mn Kα處); (3)峰背比:20000 : 1 (Fe 55,Mn Kα)...
Liberation Analyser)是目前世界上最先進的工藝礦物學參數自動定量分析測試儀器。可提供工藝礦物學參數:礦物物質組成、成份定量、礦物嵌布特徵、礦物粒級分布、礦物解離度等重要參數進行自動定量分析,主要用於礦業、冶金、地質、材料等領域。
工藝礦物參數自動分析系統是一種用於礦山工程技術、冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2012年5月25日啟用。技術指標 掃描電子顯微鏡FEI Quanta650;雙探頭電製冷能譜儀Bruker Quantax200;工藝礦物參數自動分析軟體MLA...
礦物顯微圖像成像原理、數字圖像處理技術、關鍵礦物特徵參數測定統計方法,並分別列舉了基於光學顯微鏡的礦物自動分析系統、基於掃描電子顯微鏡的礦物自動分析系統和X射線顯微鏡在金屬礦礦石及選礦產品工藝礦物學研究的套用實例。
面分析; 1、掃描電鏡可用於樣品的形貌及結構觀察,包括二次電子像、背散射電子像; 2、能譜儀可用於礦物微區成分的點分析、線分析、面分析; 3、MLA礦物自動分析軟體結合併驅動掃描電鏡和能譜儀採集相關數據信息,用於工藝礦物學相關...
礦物工程學 礦物工程學(mineral engineering)是2019年公布的冶金學名詞。定義 研究合理運用選礦和提取冶金方法,使礦物資源轉化成為有用金屬的綜合性工程學科。出處 《冶金學名詞》第二版。
1980年代,CSIRO研發的新電子硬體和軟體實現了多樣品的自動分析,以及從得出的礦物顆粒圖像中獲取並定量礦物學、結構構造、金相的參數。1990年代,輕元素X射線檢測儀被引入礦物鑑定當中。昆士蘭大學(University of Queensland)Julius Krutt...