《嵌入式系統可靠性設計技術及案例解析》是2012年出版的圖書，作者是武曄卿。
適用於交通控制、電力電子、消費電子、醫療電子、控制電子、軍工產品等以電子、機電一體化為主體內容的相關技術領域，既可作為工程技術人員的技術參考書，也可作為相關專業的高年級本科生、研究生、教師的設計參考書。
基本介紹
- 書名：嵌入式系統可靠性設計技術及案例解析
- 又名：嵌入式系統可靠性設計技術及案例解析（副標題）
- 作者：武曄卿
- ISBN：9787512408227
- 頁數：247
- 定價：36.00元
- 出版社：北京航空航天大學
- 出版時間：2012-7
- 叢書： 部落格藏經閣叢書
內容介紹
《嵌入式系統可靠性設計技術及案例解析》介紹了嵌入式系統設計中，哪些地方最可能帶來可靠性隱患，以及從設計上如何進行預防。內容包括：啟動過程和穩態工作中的應力狀態差別等可靠性基礎知識及方法；降額參數和降額因子的選擇方法；風扇和散熱片的定量化計算選型和測試方法、結構和電路的熱設計規範；PCB板布線布局、系統結構的電磁兼容措施；電子產品製造過程中的失效因素（包括EOS、ESD、MSD等）及預防、檢驗方法；可維修性設計規範、可用性設計規範、安全性設計規範、接口軟體可靠性設計規範等方面的技術內容。同時，針對相關內容進行實際的案例分析，以使讀者更好地掌握這些知識。
