孔徑測量儀

孔徑測量儀是一種用於信息科學與系統科學、力學、物理學、工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器，於2016年11月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：孔徑測量儀
• 產地：中國
• 學科領域：信息科學與系統科學、力學、物理學、工程與技術科學基礎學科
• 啟用日期：2016年11月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器

技術指標

波長範圍：370nm-1050nm；單次測量時間：一般全波長測量小於10秒；光源：穩定鹵鎢燈；樣品尺寸：≤150毫米；薄膜厚度：0–3000納米；孔隙率測量範圍：0–95%.孔徑大小及分布：0.5–40納米；楊氏模量測量範圍（孔隙率10%以上多料）：1-5GPa。

主要功能

薄膜納米孔徑分析儀GAM-100，是全球首台在常溫常壓狀態下，對檢測樣品無損害基礎上，表征納米級多孔材料的儀器。無需真空系統的設計使得每個樣品整個吸附、脫附測試可以在幾分鐘內完成。