大口徑GPI干涉儀系統

大口徑GPI干涉儀系統是一種用於物理學領域的計量儀器，於2004年12月10日啟用。

基本介紹

• 中文名：大口徑GPI干涉儀系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2004年12月10日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 雙頻雷射干涉儀

技術指標

口徑：610mm;1024*1024CCD。

主要功能

光學平面元件透過波面、面形檢測。