《基於掃描自測試的掃描鏈構造技術》是依託清華大學，由向東擔任項目負責人的面上項目。
基本介紹
- 中文名：基於掃描自測試的掃描鏈構造技術
- 依託單位：清華大學
- 項目負責人：向東
- 項目類別：面上項目
- 支持經費：24（萬元）
- 研究期限：2004-01-01 至 2006-12-31
- 負責人職稱：教授
- 申請代碼：F0201
- 批准號：60373009
項目摘要
基於掃描的BIST在工業界有非常廣泛的套用。已有的基於掃描的自測試方法大都採用STUMPS並行掃描鏈結構。這類技術存在在掃描鏈長度及掃描鏈個數取一折衷以達到令人滿意的測試效率。本項目將採用掃描鏈劃分技術將掃描鏈劃分成多個段, 同時不增加測試輸入數。該項目還將掃描觸發器分成不同的組, 每組掃描觸發器採用不同機率分布的信號來控制。這樣, 在測試過程中, 可隨機地插入接收周期, 因而可大大地提高測試效率。本項目將提出一種BIST策略, 該策略測試碼產生器的每一位可驅動多條掃描鏈, 因而可有效地降低測試輸入數及掃描鏈的長度。自測試的測試功耗是非常嚴峻且急待解決的問題。本項目還將提出一種稱為掃描森林的掃描結構, 不同於常規的掃描鏈,每個掃描觸發器可驅動多個後繼, 並且每一掃描樹由一原始輸入來驅動。採用掃描森林可成百成千倍地降低基於掃描BIST的測試功耗。
