《固體薄膜中的微熱透鏡效應及其檢測技術的研究》是依託浙江大學，由施柏煊擔任項目負責人的面上項目。
基本介紹
- 中文名：固體薄膜中的微熱透鏡效應及其檢測技術的研究
- 依託單位：浙江大學
- 項目負責人：施柏煊
- 項目類別：面上項目
- 批准號：69778018
- 申請代碼：F0507
- 負責人職稱：教授
- 研究期限：1998-01-01 至 2000-12-31
- 支持經費：9（萬元）
項目摘要
理論上建立了聚焦雷射泵浦固體物質引發微熱透鏡的物理模型，進行了仿真計算。同時對探測光經微熱透鏡子的衍射分布進行了理論推導和實驗測量，論證了微熱透鏡的孔徑決定於泵浦光尺寸和物質的熱擴散特性。對比檢測微熱透鏡信號的干涉法和光偏法的實驗研究，得出兩種方法具有同等靈敏度。一般固體薄膜對探測光不透明並有基底的特點，橫向光偏法檢測更具布置容易、使用方便的優點。建立了套用於測量固體薄膜熱擴散率和無損檢測深度缺陷的實驗裝置和軟體，成功測得三個量級大動態範圍的熱擴散率，並檢測到金屬材料表面下200μm深度處的缺陷。明確了雷射光熱研究的新重點方向--以頻率差分的分層光熱理論及其套用於固體薄膜內部結構分層檢測的研究。
