單光子發光器件檢測系統

單光子發光器件檢測系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2019年10月31日啟用。

基本介紹

• 中文名：單光子發光器件檢測系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2019年10月31日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器

技術指標

1 反聚束（Anti-bunching）測試：（提供已有反聚束測試實際套用數據） 1.1 通過藕接一個檢測器為start，另外一個檢測器為stop,在TCSPC時間相關單光子計數模式下測試。 1.2 具備專業的反聚束擬合軟體； 1.3 系統功能驗收要求：擬合n＜2； 1.4 從顯微鏡到時間分辨單光子檢測器光路，採用開放式耦合，保證單光子計數的信號靈敏度，保證偏振測量。

主要功能

光子反聚束測試。