同步輻射X射線掃描成分分布分析在地學中的套用研究

《同步輻射X射線掃描成分分布分析在地學中的套用研究》是地礦部測試研究所、中科院高能所為主要研究單位，安慶驤、巢志瑜、詹秀春、吳應榮為主要完成人的科研項目。

基本介紹

• 中文名：同步輻射X射線掃描成分分布分析在地學中的套用研究
• 依託單位：地礦部測試研究所、中科院高能所
• 完成人：安慶驤、巢志瑜、詹秀春、吳應榮
• 類別：科研項目

基礎信息

獲獎序號	19940054
項目名稱	同步輻射X射線掃描成分分布分析在地學中的套用研究
主要完成單位	地礦部測試研究所、中科院高能所
主要完成人	安慶驤、巢志瑜、詹秀春、吳應榮
獲獎證書編號	KJ-94-2-28
獎種	科技
等級	二等

項目摘要

該研究組建了北京同步輻射裝置的X螢光實驗站，其性能實用、可靠,填補了我國在這方面的空白。用於同步輻射X螢光微探針分析的μm級岩石標準物質研究，為同步輻射X射線螢光微探針分析提供了岩石定量測定的重要條件。用於石榴石單礦物的同步輻射X螢光微探針分布掃描分析，獲得了與掃描電鏡分析結果相一致的元素（含量）環帶結構圖。同時還進行了生物樣品與催化劑中Pt、Ni等有關化學價態的試探性研究，均獲得了較好的結果。 總之，同步輻射X螢光微探針分析是一項很有前景的分析技術，將在地質、化工等多個領域發揮越來越大的作用。