同步輻射技術研究表面熔化機理

《同步輻射技術研究表面熔化機理》是依託中國科學技術大學,由韋世強擔任項目負責人的面上項目。

基本介紹

  • 中文名:同步輻射技術研究表面熔化機理
  • 項目類別:面上項目
  • 項目負責人:韋世強
  • 依託單位:中國科學技術大學
  • 負責人職稱:教授
  • 申請代碼:A2012
  • 研究期限:2002-01-01 至 2004-12-31
  • 批准號:10174068
  • 支持經費:24(萬元)
中文摘要
高亮度同步輻射XAFS(X-射線吸收精細結構)RHEED(反射高能電子衍射)SRPES(光電子能譜)等技術研究(100)、(110)、(111)不同晶面取向Ge晶體薄膜和Ge量子點/Si(111)在表面熔化前蠹骯討械腦雍偷繾詠峁溝牟鉅歟腫恿ρХ椒撲鉍e熔化前後的結構和性質,比較實楹屠礪鄣難芯拷峁⑾嗷ビ≈ぁ4釉臃腫鈾餃鮮鍍潯礱嬡芻氖抵屎臀⒐芻懟?.

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