台式透射掃描電鏡

台式透射掃描電鏡是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2016年9月3日啟用。

基本介紹

• 中文名：台式透射掃描電鏡
• 產地：捷克
• 學科領域：材料科學、化學工程
• 啟用日期：2016年9月3日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡

技術指標

透射電鏡(TEM)模式解析度不大於1.2 nm 掃描電鏡(SEM)模式解析度不大於3 nm 樣品腔真空度優於10-5 mbar。

主要功能

台式透射掃描電鏡。