台式小分子單晶X-射線測量系統

台式小分子單晶X-射線測量系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2010年6月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：台式小分子單晶X-射線測量系統
• 產地：日本
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2010年6月1日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器

技術指標

該設備最大額定功率600W，額定電壓20-50kv, 額定電流2-15mA,樣品可360°旋轉，準直器尺寸0.8mm。

主要功能

精確測定無機物、有機物和金屬配合物等結晶物質的三維空間結構和電子云密度，分析孿晶、無公度晶體、準晶等特殊材料結構。