可聚焦雙槍離子束是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2015年10月13日啟用。
基本介紹
- 中文名:可聚焦雙槍離子束
- 產地:美國
- 學科領域:電子與通信技術
- 啟用日期:2015年10月13日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
1.E-beam電壓:20V-30KV2.E-beam解析度:[email protected]電壓:0.5KV-30KV4.I-Beam解析度:0.4nm@30kv。
主要功能
1.SEM Image Taking2.IC Cross Section Milling3.Failure/Structure Analysis。