原子力顯微鏡信號處理系統是一種用於化學、生物學、測繪科學技術、材料科學領域的分析儀器,於2008年6月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:原子力顯微鏡信號處理系統
- 產地:美國
- 學科領域:化學、生物學、測繪科學技術、材料科學
- 啟用日期:2008年6月1日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 圖像分析儀
原子力顯微鏡信號處理系統是一種用於化學、生物學、測繪科學技術、材料科學領域的分析儀器,於2008年6月1日啟用。
原子力顯微鏡信號處理系統是一種用於化學、生物學、測繪科學技術、材料科學領域的分析儀器,於2008年6月1日啟用。技術指標掃描範圍 90μm x 90μm x 8μm (XYZ 三向閉環迴路控制掃描頭) 樣品尺寸 150m...
在整個系統中是依靠雷射光斑位置檢測器將偏移量記錄下並轉換成電的信號,以供SPM控制器作信號處理。反饋系統 在原子力顯微鏡(AFM)的系統中,將信號經由雷射檢測器取入之後,在反饋系統中會將此信號當作反饋信號,作為內部的調整信號,並...
《用原子力顯微鏡實現瞬態信號的高時空分辨力檢測》是依託北京理工大學,由藍天擔任項目負責人的面上項目。 項目摘要 本項目的研究內容分為三部分,即⑴用原子力顯微鏡進行測量的位置反饋控制,結合泵浦-探測技術,構建高速AFM瞬態檢測系統...
本項目在實驗室現有原子力顯微鏡基礎上,利用鎖相檢測、高速數據採集等技術,並結合傅立葉分析算法,研製了高次諧波信號提取與處理系統,實現了原子力顯微鏡高次諧波成像功能;為提高高次諧波信號的強度與信噪比,開展了微懸臂探針運動特性研究...
掃描電化學顯微鏡等)的統稱,是國際上近年發展起來的表面分析儀器,是綜合運用光電子技術、雷射技術、微弱信號檢測技術、精密機械設計和加工、自動控制技術、數字信號處理技術、套用光學技術、計算機高速採集和控制及高分辨圖形處理技術等現代...
近場光學顯微鏡根據非輻射場的探測和成像原理,能夠突破普通光學顯微鏡所受到的衍射極限,可以在超高光學解析度下進行納米尺度光學成像與納米尺度光譜研究。近場光學顯微鏡由探針、信號傳輸器件、掃描控制、信號處理和信號反饋等系統組成。近場...
反饋和成像系統控制探針和樣品表面間距以及最後處理實驗測試結果。原子力顯微鏡AFM操作模式 隨著AFM技術的發展,各種新套用不斷湧現。具體包括如下技術:(1) 接觸模式 (contact mode) 最早的模式,探針和樣品直接接觸,探針容易磨損,因此要求...
內容主要包括量子信息、物質波、量子光學、近場光學、非線性光學、套用光學、導波纖維光學、雷射與物質相互作用、雷射器、雷射物理與技術、全息和信息處理、光通信、光譜學、光子晶體、薄膜光學、光學元件和材料等。為中國光學科技人員與國內...
四、周期信號的傅立葉變換53 第三節隨機信號分析54 一、隨機信號的基本概念54 二、隨機信號的主要特徵參數55 三、隨機信號的相關分析56 四、功率譜分析59 五、相干函式61 第四節數位訊號處理62 一、數字信號處理系統62 二、採樣定理...