半導體特性測試儀是一種用於化學工程領域的物理性能測試儀器，於2016年05月01日啟用。
基本介紹
- 中文名：半導體特性測試儀
- 產地：美國
- 學科領域：化學工程
- 啟用日期：2016年05月01日
- 所屬類別：物理性能測試儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
支持多達9個精密直流源測量單元，能夠提供測量0.1fA到1A的電流或者1uV-210V的電壓。
主要功能
參數分析儀具有無可比擬的測量靈敏度和精度，同時繼承了嵌入式Windows作業系統和吉時利互動式測試環境，為半導體科研及產業用戶進行半導體器件特性分析提供了直觀而高級的功能。
