半導體參數測試系統是一種用於核科學技術領域的電子測量儀器,於2010年12月28日啟用。 基本介紹 中文名:半導體參數測試系統產地:美國學科領域:核科學技術啟用日期:2010年12月28日所屬類別:電子測量儀器 > 通用電子測量儀器 > 直流穩壓/穩流電源 技術指標,主要功能, 技術指標最大電壓200V,最大電流1A。主要功能中小規模、單元電路參數測試。