半導體參數測試系統

半導體參數測試系統

半導體參數測試系統是一種用於核科學技術領域的電子測量儀器,於2010年12月28日啟用。

基本介紹

  • 中文名:半導體參數測試系統
  • 產地:美國
  • 學科領域:核科學技術
  • 啟用日期:2010年12月28日
  • 所屬類別:電子測量儀器 > 通用電子測量儀器 > 直流穩壓/穩流電源
技術指標,主要功能,

技術指標

最大電壓200V,最大電流1A。

主要功能

中小規模、單元電路參數測試。

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