半導體參數測試系統

半導體參數測試系統是一種用於核科學技術領域的電子測量儀器，於2010年12月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：半導體參數測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：核科學技術
• 啟用日期：2010年12月28日
• 所屬類別：電子測量儀器 > 通用電子測量儀器 > 直流穩壓／穩流電源

技術指標

最大電壓200V，最大電流1A。

主要功能

中小規模、單元電路參數測試。