分部質譜

分部質譜是用電場和磁場將運動的離子（帶電荷的原子、分子或分子碎片）按它們的質荷比分離後進行檢測的方法。1898年W.維恩用電場和磁場使正離子束髮生偏轉時發現,電荷相同時，質量小的離子偏轉得多,質量大的離子偏轉得少。分部質譜用於測定有機化合物的結構,開拓了有機質譜的新領域。

待測化合物分子吸收能量（在離子源的電離室中）後產生電離，生成分子離子，分子離子由於具有較高的能量，會進一步按化合物自身特有的碎裂規律分裂，生成一系列確定組成的碎片離子，將所有不同質量的離子和各離子的多少按質荷比記錄下來，就得到一張質譜圖。由於在相同實驗條件下每種化合物都有其確定的質譜圖，因此將所得譜圖與已知譜圖對照，就可確定待測化合物。