分部質譜法

分部質譜法是用電場和磁場將運動的離子（帶電荷的原子、分子或分子碎片）按它們的質荷比分離後進行檢測的方法。

基本介紹

• 中文名：分部質譜法
• 特點：電場和磁場
• 發明人：湯姆孫和阿斯頓
• 發明時間：1913年

簡史

1898年W.維恩用電場和磁場使正離子束髮生偏轉時發現,電荷相同時，質量小的離子偏轉得多,質量大的離子偏轉得少。1913年J.J.湯姆孫和F.W.阿斯頓用磁偏轉儀證實氖有兩種同位素[kg1]Ne和[kg1]Ne阿斯頓於1919年製成一台能分辨一百分之一質量單位的質譜計，用來測定同位素的相對豐度，鑑定了許多同位素。但到1940年以前質譜計還只用於氣體分析和測定化學元素的穩定同位素。後來分布分部質譜法用來對石油餾分中的複雜烴類混合物進行分析，並證實了複雜分子能產生確定的能夠重複的質譜之後,才將分布分部質譜法用於測定有機化合物的結構,開拓了有機質譜的新領域。

原理

待測化合物分子吸收能量（在離子源的電離室中）後產生電離，生成分子離子，分子離子由於具有較高的能量，會進一步按化合物自身特有的碎裂規律分裂，生成一系列確定組成的碎片離子，將所有不同質量的離子和各離子的多少按質荷比記錄下來，就得到一張質譜圖。由於在相同實驗條件下每種化合物都有其確定的質譜圖，因此將所得譜圖與已知譜圖對照，就可確定待測化合物。