| 中文名稱 | 出現電勢譜法 |
| 英文名稱 | appearance potential spectroscopy |
| 定 義 | 通過逐漸增強入射電子束的能量，測量試樣被激發的Ｘ射線或俄歇電子能量的變化以分析試樣表面成分，元素電子束縛能表面電子結構的電子能譜法。 |
| 套用學科 | 機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學科） |
| 中文名稱 | 出現電勢譜法 |
| 英文名稱 | appearance potential spectroscopy |
| 定 義 | 通過逐漸增強入射電子束的能量，測量試樣被激發的Ｘ射線或俄歇電子能量的變化以分析試樣表面成分，元素電子束縛能表面電子結構的電子能譜法。 |
| 套用學科 | 機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學科） |