冷場發射槍雙球差校正透射電子顯微鏡

冷場發射槍雙球差校正透射電子顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2012年12月14日啟用。

基本介紹

• 中文名：冷場發射槍雙球差校正透射電子顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2012年12月14日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡

技術指標

解析度0.078nm。

主要功能

材料微結構分析。