《公差配合與技術測量》是2018年01月01日出版的書籍，作者是張淑娟、張瑞珊、王平嶂、車君華。
書籍信息,內容簡介,圖書目錄,
書籍信息
作者：張淑娟、張瑞珊、王平嶂、車君華
定價：30元
印次：1-1
ISBN：9787302483977
出版日期：2018.01.01
印刷日期：2017.12.04
內容簡介
《公差配合與技術測量》為高職高專機電一體化技術及相關專業規劃教材，按照教育部關於技術技能型人才培養的職業教育改革精神，結合作者多年來開展的公差配合與精度檢測課程改革成果進行編寫，本書採用項目化，任務化，內容更貼近我國高職高專學生實際的學習需要，突出能力和綜合素質的培養。
《公差配合與技術測量》分為六個項目，內容主要包括尺寸公差及配合、幾何公差、表面粗糙度和測量、普通計量器具的選擇和光滑極限量規、典型零件公差與檢測、尺寸鏈基礎。全書採用最新的國家標準，內容通俗易懂，版面新穎。
《公差配合與技術測量》可作為高職高專院校機械類專業、機電類專業及相關專業的教學用書，也可作為中職學校，成人教育函授學校的教材，還可供從事機械設計、製造工藝、計量工作的企業工程技術人員參考。
《公差配合與技術測量》配有免費的電子教學課件和習題參考答案。
圖書目錄
緒論 1
一、互換性及其意義 1
二、互換性的分類 1
三、機械零件的加工誤差、公差 2
四、標準與標準化 3
五、優先數和優先數系 3
六、技術檢測 4
課程要求 4
思考題 5
項目一 尺寸公差與配合 6
任務一 尺寸公差與配合的標註與識讀 6
一、基本術語 7
二、標準公差與基本偏差的國標
規定 12
任務二 尺寸公差及配合的選用與設計 23
一、公差與配合的選用 24
二、尺寸公差與配合的標註 31
