全腦天賦檢測

全腦天賦檢測技術是當今世界最先進的全腦功能測評技術。它依據腦科學最新研究成果，採用3D納米專利採樣技術，結合全球超過1.2億人的超大人腦科學數據模型作精確比對分析，進而得出有關人腦十個腦區功能強弱數值、特性等方面的指標。

基本介紹

• 中文名：全腦天賦檢測
• 測評技術：3D納米採樣專利技術
• 學理根基：醫學解剖學遺傳學
• 學理根基：生物學的生理與物理性測量
• 套用優勢：檢測精度高達85%~97.3%

用途

據此，可分析得到被測試者的先天人格特性與溝通方式、學習類型與適合的學習方式，適合的專業和職業發展方向，潛能優勢與劣勢，以及身體保健等20多項專業內容。對於了解被測者大腦功能特性，開發大腦，增強學習力和創造力具有重要指導價值。

人腦功能區

測評技術

3D納米採樣專利技術

學理根基

醫學解剖學遺傳學，生物學的生理與物理性測量。

科學原理

人的遺傳信息是由DNA所攜帶，DNA序列不同，決定人的個子高矮、膚色和體質，還決定智力和潛在天賦等。醫學研究發現，人的受精卵形成以後要不斷分裂生長，當細胞分裂到8個時開始向器官發展，這時細胞分成三層，最外面一層主要發展為人的神經系統和皮膚。皮指紋的發育受到神經系統的調控，神經系統的發育與皮指紋密切關聯（人體的皮紋從胚胎第13周開始發育，至第19周形成，大腦褶皺與指紋同步成長）。

顯微鏡下的皮指紋結構

發展沿革

●中國人使用大拇指蓋印來作為簽名及辨識之用途，已超過二千年以上的歷史。

●義大利的馬爾比基（1626～1694）首先以科學的角度研究指紋。

●1893年弗朗西斯.高登男爵（Sir Francis Gaiton）最早研究各家族之間及不同人群中皮紋與指紋的恆久性及個別性，至今仍在使用的理論。

●Johnson與Opitz著名的愛荷華市兒童發展門診，發現了某些疾病與皮紋強有力的關聯，他們對於皮紋的檢查結論：『天賦檢測應該包括在小兒科門診的例行檢查中』

●至今全世界已有超過七千篇有關皮紋學的文章，刊登在相關的醫學期刊上。在醫學診斷上，上千個獨立研究所證實，癌症、心臟病、老年痴呆症、等一長串的名單，足以左證疾病與皮紋異常的相關聯。●北京華資成天賦檢測技術研究院陳明吉博士、白雲帆博士等人以系統理論為指導，融合醫學、生物學、工程學、數學、物理學、化學和計算機科學等多學科研究成果，研製成功MaxTQ全腦天賦檢測儀，開創了利用皮指腦科學原理進行精確人腦功能型分析的新紀元。

套用優勢

客觀、消除了文化背景及個人意識因素影響結果；中美專利、獨立智慧財產權；全人種、各國家超過1.2億人超大案例資料庫；檢測精度高達85%~97.3%。