全外顯子組測序確定下頜前突致病基因

全外顯子組測序確定下頜前突致病基因

《全外顯子組測序確定下頜前突致病基因》是依託同濟大學,由陳鳳山擔任項目負責人的面上項目。

基本介紹

  • 中文名:全外顯子組測序確定下頜前突致病基因
  • 項目類別:面上項目
  • 項目負責人:陳鳳山
  • 依託單位:同濟大學
中文摘要,結題摘要,

中文摘要

下頜前突(mandibular prognathism, MP)是一類嚴重影響口腔功能和面部美觀的發育性顱面畸形,遺傳因素和後天環境因素是其主要病因。臨床研究發現有遺傳傾向的MP患者正畸治療效果不佳。為了闡明遺傳因素作用的機制,國內外學者對MP進行大量研究,至今尚未確定其致病基因。在前期研究中,項目申請人所在學術團隊蒐集到20個MP家系,總計1056 人(其中每個家系至少存在5名MP患者)。通過對家系的全基因組掃描和遺傳連鎖分析,獲得兩個新的中國漢族MP致病位點- - 14號染色體14q24.3-14q31.2區域以及4號染色體4p16.1區域。本課題擬對現有家系採用全外顯子組測序方法,識別MP可疑致病突變,發現MP候選致病基因,通過與已發現的致病位點對比,以及正常人樣本進行驗證,最終確定MP的致病基因。MP致病基因的發現,對今後闡明該病發病機制,遺傳診斷和新藥研發具有重要的研究和套用價值。

結題摘要

下頜前突是一種較為嚴重的頭面部畸形,臨床發病率高,遺傳機制不明。我課題組收集了一個由四代人、23名現存成員組成的下頜前突家系樣本,並採用全基因組連鎖分析對該家系樣本進行分析,發現一個新的下頜前突可疑致病位點12pter-p12.3。隨後我課題組由對該家系中部分個體進行全外顯子組測序,測序結果發現在該致病位點記憶體在FGF23基因雜合突變c.35C>A可能為下頜前突的致病突變,在該家系中與下頜前突表型共分離。在65例散發下頜前突樣本中,有3例患者存在相同突變。而在342例對照樣本中,均沒有發現上述突變。軟體功能預測顯示該突變可能擾亂FGF23的信號肽功能並且抑制蛋白分泌。將突變基因在293T細胞中過表達,發現相較野生型對照,突變組的細胞裂解液中FGF23含量增加而細胞外液中FGF23含量減少。通過上述研究成果,我們發現FGF23 c.35C>A突變與下頜前突顯著相關,從而拓寬了整個正畸領域對下頜前突遺傳學致病因素的理解。在本基金的資助下,已發表SCI論文4篇,其他英文文章2篇,國核心心期刊發表2篇,並申請獲得專利1項。

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