內建自測試（英語：built-in self-test, BIST）是可測試性設計的一種實現技術。 基本介紹 中文名：內建自測試外文名：built-in self-test, BIST 簡介,可測試性設計,掃描鏈,相關條目, 簡介內建自測試（英語：built-in self-test, BIST）是可測試性設計的一種實現技術。可測試性設計可測試性設計（英語：Design for Testability, DFT）是一種積體電路設計技術，它將一些特殊結構在設計階段植入電路，以便設計完成後進行測試。電路測試有時並不容易，這是因為電路的許多內部節點信號在外部難以控制和觀測。通過添加可測試性設計結構，例如掃描鏈等，內部信號可以暴露給電路外部。總之，在設計階段添加這些結構雖然增加了電路的複雜程度，看似增加了成本，但是往往能夠在測試階段節約更多的時間和金錢。掃描鏈掃描鏈（英語：Scan chain）是可測試性設計的一種實現技術。它通過植入移位暫存器，使得測試人員可以從外部控制和觀測電路內部觸發器的信號值。相關條目掃描鏈
