《光電材料表征技術》是2022年浙江大學出版社出版的圖書。
基本介紹
- 中文名：光電材料表征技術
- 出版時間：2022年1月1日
- 出版社：浙江大學出版社
- ISBN：9787308219532
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
《光電材料表征技術》主要介紹光電材料涉及的表征技術，並以大量實例輔助說明。全書分為元素成分分析、元素價態分析、晶體結構分析、表面形貌分析、薄膜厚度測量、光學性能測量、電學性能測量等部分。
《光電材料表征技術》從材料研究人員角度出發介紹材料表征技術，重在介紹各種技術在材料領域的套用，以用為主，具有較強的科學性和實用性。
圖書目錄
第1章 元素成分分析
1．1 X射線螢光光譜
1．1．1 X射線源
1．1．2 軔致輻射
1．1．3 X射線螢光光譜儀的基本原理
1．1．4 元素濃度
1．1．5 線掃描和面分布
1．1．6 影響定量分析的因素
1．1．7 掠入射/全反射X射線螢光
1．1．8 單色光源X射線螢光
1．1．9 真空環境X射線螢光
1．1．10 其他
1．2 X射線吸收譜
1．2．1 X射線吸收邊
1．2．2 X射線吸收譜的測量方法
1．2．3 套用實例
1．2．4 其他
1．3 光電子能譜
1．3．1 光電子
1．3．2 光電子能譜儀的基本構造
1．3．3 光電子峰的標記
1．3．4 光電子能譜中的背景信號
1．3．5 光電子能譜的表面靈敏度
1．3．6 超高真空系統
1．3．7 表面清潔／濺射離子槍
1．3．8 中和電子槍
1．3．9 定量分析
1．3．10 電子能量分析器工作模式
1．3．11 微區分析、線掃描和面分布
1．3．12 樣品荷電
1．4 俄歇電子能譜
1．4．1 俄歇電子
1．4．2 俄歇電子峰的標記
1．4．3 強度譜和微分譜
1．4．4 俄歇電子能譜的激發源
1．4．5 筒鏡式電子能量分析器一電子槍集成
1．4．6 球柵形阻止勢電子能量分析器
1．4．7 表面靈敏度
1．4．8 譜圖處理
1．4．9 表面荷電問題
1．4．10 俄歇電子峰的背景信號問題
1．4．11 微區分析、線掃描和面分布
1．4．12 電子束造成的表面損傷
1．4．13 電子能量分析器工作模式
1．5 二次離子質譜
1．5．1 離子濺射
1．5．2 二次離子質譜儀的基本結構
1．5．3 離子的質荷比
1．5．4 離子濺射產額
1．5．5 質量分析器
1．5．6 套用實例
1．5．7 定量分析
1．6 雷射誘導擊穿光譜
1．6．1 基本原理
1．6．2 套用實例
1．6．3 雷射誘導擊穿光譜的特點
……
第2章 元素價態分析
第3章 晶體結構分析
第4章 表面形貌分析
第5章 薄膜厚度測量
第6章 光學性能測量
第7章 電學性能測量
