光學測試設備

光學測試設備是一種用於電子與通信技術領域的計量儀器，於2013年2月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：光學測試設備
• 產地：日本
• 學科領域：電子與通信技術
• 啟用日期：2013年2月28日
• 所屬類別：計量儀器 > 光學計量儀器

技術指標

1. 系統精度：照明度± 3% ,亮度 (Y) ± 3% ,色坐標 (x,y) ± 0.003 2. 拍攝與處理時間：≤432sec 3. 數據處理：計算每個子像素的亮度數據，以8~10 bits儲存。

主要功能

利用CCD得到每個子像素的亮度資訊，進行後續的數據處理。