《光學晶體折射率測量方法》是2000年1月1日實施的一項行業標準。
基本介紹
- 中文名：光學晶體折射率測量方法
- 實施日期：2000-01-01
- 發布日期：1999-08-06
- 標準號：JB/T 9495.2-1999
- 制修訂：修訂
- 代替標準：ZB N05 001.2-1986
- 批准發布部門：國家機械工業局
備案信息
備案號：6203-2000
《光學晶體折射率測量方法》是2000年1月1日實施的一項行業標準。
《單軸晶光學晶體折射率測量方法》是2021年10月1日實施的一項中國國家標準。編制進程 2021年3月9日，《單軸晶光學晶體折射率測量方法》發布。2021年10月1日，《單軸晶光學晶體折射率測量方法》實施。起草工作 主要起草單位：山東大學、中國工程物理研究院化工材料研究所、中國建材檢驗認證集團股份有限公司、中國科學院...
光學晶體折射率測量方法 《光學晶體折射率測量方法》是2000年1月1日實施的一項行業標準。備案信息 備案號：6203-2000
主要用來測定寶石折射率值的一種儀器。鑑定寶石需要從晶體結構、比重、折光度、多向色性、硬度等多方面綜合考慮，即使同樣的寶石，產地不同，性質也有差異，價值也不同，如產自緬甸的紅寶石和產自泰國的，在光學性質和內部結構上都有一定的差異。一、 儀器結構 折射儀主要由高折射率稜鏡（鉛玻璃或合成立方氧化鋯）...
在工程光學中常把空氣折射率當作1，而其他介質的折射率就是對空氣的相對摺射率。介質的折射率通常由實驗測定，有多種測量方法。對固體介質，常用最小偏向角法或自準直法；液體介質常用臨界角法（阿貝折射儀）；氣體介質則用精密度更高的干涉法（瑞利干涉儀）。折射率列表 材質顏色 折射率列表 金屬 顏色/RGB 漫射...
光子晶體光纖有很多奇特的性質。例如，可以在很寬的頻寬範圍內只支持一個模式傳輸；包層區氣孔的排列方式能夠極大地影響模式性質；排列不對稱的氣孔也可以產生很大的雙折射效應，這為我們設計高性能的偏振器件提供了可能。概念提出 光子晶體的概念最早出現在1987年，當時有人提出，半導體的電子帶隙有著與光學類似的周期...
光折射係數 光折射係數（light refraction coefficient）是2014年公布的建築學名詞。定義 光從真空射入介質發生折射時，入射角(i)與折射角(r)的正弦之比。出處 《建築學名詞》第二版。
（4）讀數：從讀數望遠鏡中讀出刻度盤上的折射率數值。常用的阿貝折射儀可讀至小數點後的第四位，為了使讀數準確，一般應將試樣重複測量三次，每次相差不能超過0.0002，然後取平均值。注意事項 阿貝折射儀是一種精密的光學儀器，使用時應注意以下幾點：（1） 使用時要注意保護稜鏡，清洗時只能用擦鏡紙而不能用...
光學分析可分為非光譜法及光譜法兩大類方法。非光譜法 非光譜法（或稱一般光學分析法）檢測被測物質的某種物理光學性質，進行定量、定性分析的方法。如折射法、旋光法、園二色散法及濁度法等。光譜法 光譜法利用物質的光譜特徵，進行定性、定量及結構分析的方法稱為光譜法或光譜分析法。按物質能級躍遷的方向，可分...
根據RBBF的特性，本課題擬探索生長高光學質量晶體的助熔劑體系以及合適的生長方法，研究RBBF在助熔劑體系中的生長機理，獲取可用作深紫外倍頻器件的RBBF晶體；測量RBBF晶體的有關光學和非線性光學性能、設計倍頻器件、研究其紫外、深紫外倍頻性能；完成晶體的透光光譜、倍頻係數、折射率等參數的測量並進行雷射倍頻性能...
近年來，非線性光學和高階耦合的物理效應的廣泛研究和套用，更使這個方法成為固體物理各領域中重要的基本方法。概念 晶體物性張量的空間變換規律 各向異性晶體物理性能的數學描述的手段是張量。晶體的物理性能通常用可測量的物理量之間的關係加以定義。譬如聯繫電流密度和電場強度的晶體電導率；聯繫應力和極化強度的壓電...
薄膜的光學厚度與物理厚度換算關係為：光學厚度=物理厚度*nn為介質折射率（光從介質1射入介質2發生折射時，入射角與折射角的正弦之比叫做介質2相對介質1的折射率）。測量方法 在薄膜沉積過程中要監控薄膜的厚度，首先要能夠測量薄膜的厚度。薄膜厚度線上測量的方法主要有：測量電阻法、質量法、反射透射光譜法和橢圓...
在項目的資助下，我們掌握了高純BaGa4Se7多晶原料的合成方法和BaGa4Se7晶體的坩堝下降法生長工藝 （坩堝形狀、溫場、下降速度等）， 獲得了φ20 x 30 mm 的外形完整的質量較好的晶體，並詳細測試新晶體基本的線性和非線性光學性能和其它物化性能。包括：①測量了晶體線性光學性質如折射率和透過光譜，獲得了晶體折射...
染料指示劑型光纖氣體感測是利用染料指示劑作為中間物來實現對氣體間接測量的感測技術。其基本原理是：染料與被檢測氣體接觸後發生化學反應，使染料的物理、化學性質發生變化，再利用光學方法測量這種變化，就可以得到被檢測氣體的信息。常用的染料指示劑型光纖傳氣體感器是 PH 值感測器，該感測器利用的是某些氣體的濃度...
當N、K值已知時，吸收性礦物的其他光學常數都可以根據它們算出，原理和計算公式已在《不透明礦物晶體光學》中基本解決。偏振模型 紅外偏振成像技術近年來發展迅速，但偏振機理等方面的研究仍處於起步階段。為深入研究紅外輻射偏振特性的產生機理和影響因素，本文提出了一種基於復折射率的偏振模型。模型基於空氣－ 光滑介質...
PCF 的特性與其結構密切相關，包層空氣孔大小、間距、排列形狀，纖芯折射率高低及形狀、大小，決定了 PCF 的傳光特性。因此，只要改變空氣孔在 PCF 包層中的分布規律和大小，就可以設計出不同特性的 PCF。2液晶的基本光學性質 液晶，即液態晶體(LC,Liquid Crystal)，是物理狀態的一種，由於具有異質理化與光電特性...
折射率nd和阿貝數υd與標準值的允許偏差分為3級，見表5 表5 光學玻璃折射率和阿貝數按GB/T 7962.1規定的測試方法進行測量。折射率測量精度為 ±3×10-5,中部色散的測量精度為±2×10-5。光學均勻性 6.2.1 尺寸小於150mm的玻璃毛坯 尺寸小於150mm的玻璃毛坯的光學均勻性按GB/T 7962.2規定的測試方法進行...
其實驗裝置如圖1，選用兩種不同頻 率、不同線偏振狀態的單色雷射，經過一定的光學裝置，以平行光束或聚焦光束的方式與非線性晶體光軸成一定的角度入射，通過晶體的出射光束再經過適當的分光裝置，使不同頻率成分的光束在空間上分離開，然後再對不同頻率的光分別進行檢測。在這類裝置中，也常利用非線性晶體的雙折射...
應力雙折射又稱光彈性效應。透明的各向同性的介質在壓力或張力的作用下，折射率特性會發生改變，從而顯示出光學上的各向異性。若介質本來就是各向異性晶體，則外力作用會使它產生一個附加的雙折射。塞貝克在1813年和布儒斯特在1816年最早研究這一現象。對物體施以壓力或張力，它就顯示出負單軸晶體或正單軸晶體的...
同時由於包層與纖芯較大的折射率差，使得波導色散增加，零色散波長可以移至短波長波段。具有高非線性係數和可控的色散特性的高非線性光子晶體光纖的已被廣泛套用於光通信、全光再生、光相干層析及光頻率測量等領域。3高非線性光子晶體光纖研究現狀 國際上對高非線性光子晶體光纖的研究主要包括：理論模型及光學傳輸特性...
光束(光柱)的中心線，或光學系統的對稱軸。光束繞此軸轉動，不應有任何光學特性的變化。通過鏡頭中心的線。晶體根據其光學特性可以分為均質體和非均質體當光線經過非均質體時會發生雙折射，形成兩條相互垂直的偏振光。但是，當光線從某個特殊的方向通過非均質體寶石時，不發生雙折射現象。這個特殊方向就是寶石的光軸...
《MxNyBO3F2族化合物非線性光學新晶體探索》是依託中國科學院理化技術研究所，由張承乾擔任項目負責人的面上項目。項目摘要 設計合成MxNyBO3F2結構型化合物，從中尋找能用於固態雷射器193nm雷射倍頻輸出、性能與KBBF晶體相近、易於生長的新晶體。研究2-5種新晶體的結構、生長方法、生長習性和工藝條件，獲得2-3種測試...
l 檢測光學晶體，如氟化鈣（螢石）等。產品參數 產品規格 1、偏光應力儀光場亮度≥120cd/m2 （螢光燈30W）2、偏光應力儀偏振元件任何一點的偏振度大於等於百分之九十九 3、該款應力儀偏振場200*200mm 4、偏光應力儀構造：檢偏鏡和起偏鏡之間分別置入1/4波片及全波片（波長為565nm），波片的慢軸與起偏鏡的偏振...
1．掌握晶體電光調製的原理和實驗方法。2．學會用簡單的實驗裝置測量晶體半波電壓、電光常數的實驗方法。3． 觀察電光效應所引起的晶體光性的變化和會聚偏振光的干涉現象。學史背景 當給晶體或液體加上電場後，該晶體或液體的折射率發生變化，這種現象成為電光效應。電光效應在工程技術和科學研究中有許多重要套用，它...
20℃時金屬的彈性模量 附錄D 某些物質中的聲速 附錄E 常用光源的光譜線波長 附錄F 汞光譜線的波長（在可見光區域）附錄G 晶體及光學玻璃折射率 附錄H 材料相對磁導率表 附錄I 銅電阻Cu50的電阻一溫度特性 附錄J 鉑電阻Ptl00分度表（ITS一90）附錄K 銅一康銅熱電偶分度表 附錄L 實驗數據記錄表格 參考文獻 ...
光在晶體中的傳播與偏振現象密切相關，利用偏振現象可了解晶體的光學特性，製造用於測量的光學器件，以及提供諸如岩礦鑑定、光測彈性及雷射調製等技術手段。結構簡述 起偏振器又稱為偏光器，它的作用是產生線性偏振光照明，一般安裝在集光器下。但這種形式的起偏振器不能充分利用集光器孔徑，因此現在一般採用把尼科耳...
實驗50 氫原子光譜與里德伯常量的測定 第五章 設計性實驗及計算機輔助實驗介紹 設計性實驗指導 實驗51 液體在毛細管中上升的速率與液體表面張力係數、黏度的測量 實驗52 變阻器的使用與電路控制 實驗53 用電諧振法測膜層厚度 實驗54 用示波器測量諧振頻率和電感 實驗55 組合透鏡實驗 實驗56 光學材料折射率的測量 計算...
聚合物晶體薄片，放在正交偏光顯微鏡下觀察，表面不是光滑的平面，而是有顆粒突起的。這是由於樣品中的組成和折射率是不同的，折射率愈大，成像的位置愈高；折射率低者，成像位置愈低。聚合物結晶具有雙折射性質，視區有光通過，球晶晶片中的非晶態部分則是光學各向同性，視區全黑。用顯微鏡目鏡分度尺，測量晶粒...
所以濾光片的中心波長漂移可以簡單地表示為Δλ=薄膜空隙吸潮引起的漂移+溫度折射率變化引起的漂移+熱膨脹引起的漂移。顯然，當採用離子技術使聚集密度提高到1時，吸潮引起的中心波長漂移已可忽略不計，而其他兩種因素上升為主要因素。本文僅從一般工藝出發，著重考察一下TiO₂/SiO₂組成的三腔濾光片的光學穩定性...