光學圖像質量測試系統

光學圖像質量測試系統是一種用於信息科學與系統科學、物理學、電子與通信技術、航空、航天科學技術領域的分析儀器，於2013年03月08日啟用。

基本介紹

• 中文名：光學圖像質量測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：信息科學與系統科學、物理學、電子與通信技術、航空、航天科學技術
• 啟用日期：2013年03月08日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器

技術指標

1. 差分溫度範圍 －25°C ~+ 75 °C。 2. 絕對溫度範圍 0°C~ +100°C 3.設定溫度解析度 1mK 4.發射率 0.97±0.01 5.孔徑 50毫米×50毫米 6.溫度均勻性

主要功能

實現光電圖像質量評價方法及測量研究，能對圖像系統的光電轉換特性、光學成像特性、噪聲特性、時間特性等關鍵參數進行測量並給出性能評估報告。