《光學和光子學微透鏡陣列第2部分：波前像差的測試方法》是2022年10月，由國家市場監督管理總局、國家標準化管理委員會發布的標準。
2023年5月1日，《光學和光子學微透鏡陣列第2部分：波前像差的測試方法》標準開始實施。
基本介紹
- 中文名：光學和光子學微透鏡陣列第2部分：波前像差的測試方法
- 外文名：Optics and photonics—Microlens array—Part 2:Test methods for wavefront aberrations
- 標準號：GB/T 41869.2-2022
- 實施時間：2023年5月1日
- 發布單位：國家市場監督管理總局、國家標準化管理委員會
編制進程,起草工作,標準歸口,
編制進程
2022年10月，《光學和光子學微透鏡陣列第2部分：波前像差的測試方法》標準發布。
2023年5月1日，《光學和光子學微透鏡陣列第2部分：波前像差的測試方法》標準開始實施。
起草工作
主要起草單位：中國兵器工業標準化研究所、電子科技大學、中國科學院重慶綠色智慧型技術研究院、南京邁得特光學有限公司、西安西谷微電子有限責任公司、浙江偉星光學有限公司、上海瑞立柯信息技術有限公司。
主要起草人：孟凡萍、朱懿、李斌成、張衛國、姜緒木、王金玉、楊宏傑、汪松、汪瑤。
標準歸口
國家標準《光學和光子學 微透鏡陣列 第2部分：波前像差的測試方法》 由TC103（全國光學和光子學標準化技術委員會）歸口，TC103SC6（全國光學和光子學標準化技術委員會電子光學系統分會）執行 ，主管部門為中國機械工業聯合會。
