儀器化微/納米壓入/劃入測試系統

儀器化微/納米壓入/劃入測試系統

儀器化微/納米壓入/劃入測試系統是一種用於基礎醫學領域的科學儀器,於2013年7月2日啟用。

基本介紹

  • 中文名:儀器化微/納米壓入/劃入測試系統
  • 產地:瑞士
  • 學科領域:基礎醫學
  • 啟用日期:2013年7月2日
技術指標,主要功能,

技術指標

1.納米壓痕系統:最小有效載入載荷:≤0.1mN;最大有效載入載荷≥500mN;有效載荷解析度:≤40nN;最小接觸力≤1uN;最大壓痕深度≥200um;位移解析度:≤0.004nm;位移信號穩定水平(或熱漂移):≤0.04nm/sec熔融矽測試10mN保載60s。2.微米壓入/劃痕:載荷範圍:最大10N;最小有效載入載荷:50mN;載入解析度:0.3mN;最大壓入深度:≥200um;壓入深度解析度:0.3nm。劃痕正向力最小載荷≤30mN;劃痕正向力最大載荷≥30N;正向力。

主要功能

對於材料、薄膜或器件進行微/納米壓入/劃入測試,可以測試壓入硬度、彈性模量、蠕變、斷裂韌性、彈性功、塑性功、存儲模量、損耗模量、硬度及模量隨樣品深度變化等樣品的各種力學參量。可以用於研究材料的疲勞特性等。

熱門詞條

聯絡我們