低頻噪聲測試儀

低頻噪聲測試儀是一種用於核科學技術領域的電子測量儀器，於2012年12月31日啟用。

基本介紹

• 中文名：低頻噪聲測試儀
• 產地：日本
• 學科領域：核科學技術
• 啟用日期：2012年12月31日
• 所屬類別：電子測量儀器 > 通用電子測量儀器 > 直流穩壓／穩流電源

技術指標

測試頻率：1-100kHz；系統噪聲：-177dBV2/Hz；測試誤差：±1.5dB；系統測試可重複精度：±2dB。

主要功能

電子器件的1/f噪聲特性測試。