低頻噪聲測試儀是一種用於核科學技術領域的電子測量儀器,於2012年12月31日啟用。
基本介紹
- 中文名:低頻噪聲測試儀
- 產地:日本
- 學科領域:核科學技術
- 啟用日期:2012年12月31日
- 所屬類別:電子測量儀器 > 通用電子測量儀器 > 直流穩壓/穩流電源
技術指標,主要功能,
技術指標
測試頻率:1-100kHz;系統噪聲:-177dBV2/Hz;測試誤差:±1.5dB;系統測試可重複精度:±2dB。
主要功能
電子器件的1/f噪聲特性測試。
低頻噪聲測試儀是一種用於核科學技術領域的電子測量儀器,於2012年12月31日啟用。