低維納米材料光譜與光電測量系統是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2015年11月12日啟用。
基本介紹
- 中文名:低維納米材料光譜與光電測量系統
- 產地:美國
- 學科領域:電子與通信技術
- 啟用日期:2015年11月12日
- 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器
低維納米材料光譜與光電測量系統是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2015年11月12日啟用。
低維納米材料光譜與光電測量系統 低維納米材料光譜與光電測量系統是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2015年11月12日啟用。技術指標 光譜儀:500mm焦距成像;探測器解析度是1340*1300。主要功能 低維納態分析。
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