位移場全息干涉分析

利用全息照相獲得物體變形前後的光波波陣面相互干涉所產生的干涉條紋圖，以分析物體變形的一種干涉量度方法，是實驗應力分析方法的一種。用全息照相術，能將沿同一光路而時間不同的兩個光波波陣面間的相互干涉顯示出來。物體變形前，記錄第一個波陣面；變形後再記錄第二個波陣面。

基本介紹

• 中文名：位移場全息干涉分析
• 外文名：surfacedisplacement analysis using holographic interferometry

原理

用雷射再現全息干涉法拍攝的承受載荷的構件的全息圖時，可重新形成構件受載前後的兩個波陣面。由於這兩個波陣面的干涉，獲得一組包含著構件變形位移信息的干涉條紋（見圖1）。

圖1 殼體在氣壓作用下表面變形干涉條紋

歷史

1965年，R. L. 鮑威爾和K. A. 斯特森用波陣面再現干涉現象分析振動問題後，這種新方法便在實驗應力分析領域中獲得廣泛的套用。1976年，J. D. 布賴爾斯將許多學者對含有物體變形位移信息的干涉條紋的計量和分析解釋的方法，歸納為四種主要的定量分析方法：條紋定位法（FL法）、條紋計數法（FC法）、零級條紋法（ZF法）和等傾干涉條紋法（HF法）；其中用得較多的是FC法、ZF法及其綜合方法。

套用

對干涉條紋進行定量分析，可得出受力構件的表面由於載荷作用而產生的整個位移場和應變場。這樣，就能解決複雜情況下工程構件的強度和剛度問題。

特點

非接觸式的測量方法，靈敏度很高（按雷射波長的數量級計），並可得到任意位移矢量的三個坐標分量。