下控制限Lower ontrpl limit; I.'L質控圖中用來判斷生產過程是否存在異常的「界限值，用一條平行於中心線的虛線表示，與中心線相距三倍標準差。
基本介紹
- 中文名：下控制限
- 外文名：Lower }ontrpl limit
- 類型：化學化工術語
如果抽樣測定的產品特性量值落在控制限線內，且實驗點在中心線兩側隨機排列，表示生產過程處於統計控制狀態，否則，說明生產條件發生了異常變化，需採取措施使生產過程恢復正常一
下控制限
相關詞條
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- 控制限
控制限通常是兩條線，即下控制限和上控制限，是控制圖上用來判斷一個系統穩定性的基礎，偏差超過控制限範圍就意味著有特殊原囚在影響系統。控制限要根據系統數據來計算，不要和工程產品規格混淆。根據統計過程控制學方法，可以計算出紅珠子試驗，其次品率紅珠子數下限是1上限是18，這個控制限不可隨意擴大或縮小。
- 控制圖
圖上有三條平行於橫軸的直線：中心線（CL，Central Line）、上控制限（UCL，Upper Control Limit）和下控制限（LCL，Lower Control Limit），並有按時間順序抽取的樣本統計量數值的描點序列。UCL、CL、LCL統稱為控制限（Control Limit），通常控制界限設定在±3標準差的位置。中心線是所控制的統計量的平均值，上下...
- 不合格品率控制圖
不合格品率控制圖的製圖步驟如下：(1)收集數據。此時，子組數量一般大於等於25，並且每個子組的容量大於50。(2)計算每個子組的不合格品率P。(3)計算所有子組不合格品率P的均值 。(4)計算不合格品率P控制圖的上控制限UCL、下控制限LCL和中心線CL的值。(5)根據上下控制限和中心線的值，繪製控制圖。
- 中位數-極差控制圖
計算控制界限 計算控制界限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均值和極差的變化和範圍，控制限是由子組的樣本以及反映在極差上的子組內的變差的量來決定的。1．計算中位數均值與極差均值 2．計算中位數的上、下控制限 上式中，是隨樣本容量變化的係數，下表是樣本容量從2～10的係數值(表1)。3．計算極差...
- 單值控制圖
)，所以上下控制界限的公式也可以寫成 控制上限= ，或 控制下限= ，或 ，式中係數 ，它與計算R時所用的子樣大小n有苯，E₂與n的關係列於表1。繪製過程 單值控制圖比較簡單，具體繪製過程如下：(1)收集觀測數據，並記錄為 ；(2)計算n個觀察數據的均值 和標準差 ；(3)計算上控制限 ，下控制限 ...
- SPC管制圖
定義：根據控制限作出的判斷也可能產生錯誤。可能產生的錯誤有兩類。第一類錯誤是把正常判為異常，它的機率為α，也就是說，工序過程並沒有發生異常，只是由於隨機的原因引起了數據過大波動，少數數據越出了控制限，使人誤將正常判為異常。 虛發警報，由於徒勞地查找原因並為此採取了相應的措施,從而造成損失. 因此...
