三維全場動態變形應變測量分析系統是一種用於機械工程領域的分析儀器,於2014年12月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:三維全場動態變形應變測量分析系統
- 產地:中國
- 學科領域:機械工程
- 啟用日期:2014年12月1日
- 所屬類別:分析儀器
三維全場動態變形應變測量分析系統是一種用於機械工程領域的分析儀器,於2014年12月1日啟用。
三維全場動態變形應變測量分析系統是一種用於機械工程領域的分析儀器,於2014年12月1日啟用。技術指標三維形狀、位移及應變套用。1主要功能用3d影像相關算法來提供機械試驗的全場三維形狀、位移及應變數據。1...
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三維高速動態變形和應變測量系統分析系統是一種用於土木建築工程、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2018年2月5日啟用。技術指標 1、全畫幅解析度:1024*1024pixels(方形晶片); 2、採用單一像素尺寸為20*20微米方形CMOS晶片; 3、全...
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三維變形及流場測量分析系統是一種用於地球科學、礦山工程技術領域的醫學科研儀器,於2017年12月14日啟用。技術指標 CCD解析度3312乘2488像素 ;探測器解析度;640*480;波長範圍:7.5-14um。主要功能 該系統工作原理為在可控應力應變邊界...
XTDIC-MICRO顯微應變測量系統 XTDIC-STROBE三維動態軌跡測量系統 XTDP攝影測量系統 XTDP攝影測量系統是一款用於大型工件及產品、生產設備、試驗設施等對象的空間幾何尺寸測量和靜態變形分析,具有精度高、速度快、超便攜和環境適應性強等特點。
DIC-3D系統是非接觸式的光學三維應變測量系統,主要運用於分析、計算、儲存應變測量結果。本系統提供的測量結果包括數據、圖表以及雲圖,能夠直觀清晰地反應被測量物體的變形行為,為用戶提供便利。DIC-3D系統利用數字圖像處理基本原理,通過...
全場應變測量系統 全場應變測量系統是一種用於力學、工程與技術科學基礎學科、機械工程領域的物理性能測試儀器,於2015年12月9日啟用。技術指標 15-280Hz。主要功能 應力測量、應變測量、力場分析。
光學全場變形應變測量系統是一種用於信息科學與系統科學領域的科學儀器,於2017年12月20日啟用。技術指標 應變測量範圍0.005%至≥2000%,高速攝像機測量範圍為3mm×3mm至≥10m×10m,低速攝像機可用測量範圍為1mm×1mm至5m×5m;三維應...
可與各種試驗機配合使用,同步採集試驗機的力、位移、變形等數據。系統也可單獨使用。 實現二維、三維全場應變測量和分析。 強大的處理功能:各種分析功能、各種坐標轉換功能等。 系統在不同時刻圖像中自動分配一一對應的正方形或者矩形的面...
三維光學應變測量系統是一種用於材料科學領域的計量儀器,於2019年9月29日啟用。技術指標 應變測量精度:0.005%; 位移測量精度:20+L/25μm(L:mm); 中低速測量系統測量頭解析度:600萬像素(2750 x 2200 pixels); 中低速測量...
_x000D_ 本設備主要是升級原非接觸三維變形測量系統,集成專用高速圖像採集系統,可以用於衝擊、碰撞、地震作用等高應變率下的物體三維變形的測量,還可以用於高頻振動分析,尤其適合大振幅振動下的位移和應變測量。
動態測量分析系統是一種用於物理學、工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2019年11月1日啟用。技術指標 最高不低於400萬成像精度;在最高成像精度下不低於每秒500個細節精度;通過調節成像精度,可獲取不低於10000個細節精度;時間精度...
針對非協調接觸問題,研究了基於局部位移場以及接觸模型的接觸力識別方法,可以用於測量接觸面的分布力。建立了雙解析度的數字圖像相關係統,並基於該系統分析了接觸中的全場變形測試、應變集中分析等關鍵問題。該項目對於工程中廣泛存在的接觸...
在被測物體變形過程中或者變形之後,採集連續的圖像。系統比較數字圖像並計算物體紋理特徵的位移和變形。該系統特別適合測量靜態和動態載荷下的三維變形,用於分析實際組件的變形和應變。技術原理 XTDIC系統結合數字圖像相關技術(即DIC)與雙目...
動態應變測試系統是一種用於力學領域的物理性能測試儀器,於2017年11月27日啟用。技術指標 (1)動態應變感測器,結構表面安裝,測量範圍± 300με; (2)動態應變感測器,結構內部安裝,測量範圍± 500με; (3)應變數據採集設備(...
其次,將多個狀態相互之間通過全球點或相關點進行拼合,對各個狀態之間的變形點的變形量和變形方向通過三維色譜圖的方式直觀的顯示出來,並可以獲得各個點和其所組成的一些空間元素在空間位置中的變形量和變形數據。靜態變形測量分析系統:...
測量產品 XTOM-MATRIX三維掃瞄器 XTOM-MATRIX三維掃瞄器包括:XTOM-MATRIX-1.3M 三維掃瞄器 XTOM-MATRIX-3M三維掃瞄器 XTOM-MATRIX-5M三維掃瞄器 XTOM-MATRIX-9M三維掃瞄器 XTDIC三維全場應變測量系統 XTDIC三維全場應變測量系統包括:XTDI...
2-2D全場應變測試系統 2D全場應變測試系統主要用於材料力學性能測試中,包括:(1)靜態測試:如單雙軸拉伸,壓縮,剪下,三點彎曲,斷裂,疲勞,高低溫變形等實驗。利用2D全場應變測試系統可以快速測量到材料表面全場的二維全場位移、應變、...