《三叉神經痛發作的誘發簇放電機制》是依託中國人民解放軍第四軍醫大學，由楊晶擔任項目負責人的面上項目。
基本介紹
- 中文名：三叉神經痛發作的誘發簇放電機制
- 項目類別：面上項目
- 項目負責人：楊晶
- 依託單位：中國人民解放軍第四軍醫大學
項目摘要,結題摘要,
項目摘要
三叉神經痛（TN）是一種難治的神經病理痛。受損三叉神經節（TG）是觸誘發痛信號的來源，至今尚未識別其特徵及產生機制，臨床缺乏有效的鎮痛藥物。我們近期在三叉神經中腦核觀察到神經元興奮性的分型、轉型及其相關離子通道比例的動態變化；並在受損背根節發現誘發簇放電（EB）是引起觸誘發痛發作的一種電活動信號。據此我們構想：在炎症或受損條件下，TG內神經元興奮性類型發生轉變，即產生簇放電的2型神經元數目顯著增多，使得EB出現的機率增加，成為觸誘發痛信號的異位起搏點。當外周感受野受到觸壓等非痛刺激時，TG內多個EB同步爆發，傳入中樞引起劇烈疼痛。本項目擬利用眶下神經慢性縮窄環術TN動物模型，通過痛行為學、電生理學及分子生物學等技術揭示TN發作的規律、特徵、興奮性轉型、離子通道及分子機制，闡明TN發作的本質過程，為臨床篩選抑制觸誘發痛發作的理想鎮痛藥物提供特異的分子靶點。
結題摘要
三叉神經痛（TN）是一種難治的神經病理痛。受損三叉神經節（TG）是觸誘發痛信號的來源，至今尚未識別其特徵及產生機制，臨床缺乏有效的鎮痛藥物。我們利用眶下神經慢性縮窄環術TN動物（ION-CCI）模型，通過痛行為學、電生理學及分子生物學等技術揭示TN發作的規律、特徵、興奮性轉型、離子通道及分子機制。結果發現：（1）自ION-CCI術後第1天起大鼠面部機械痛閾即明顯下降，術後12-14天達到最低值，之後輕度上升上升，但仍≦2g。（2）正常對照組TG上2類興奮性神經元和3類興奮性神經元所占比例分別為24.2%和75.8%；而在ION-CCI模型組TG上二者比例分別為41.3%和58.7%，提示TG受損後2類興奮性神經元數目異常增多（P＜0.05）。（3）興奮性神經元之間的相互轉型現象：2類興奮性神經元在TTX作用下轉型為3類興奮性神經元；3類興奮性神經元在4-AP作用下轉型為2類興奮性神經元。（4）正常對照組和ION-CCI模型組TG上的2類興奮性神經元中I4-AP含量基本相同，INaP的含量基本相同；3類興奮性神經元中I4-AP含量基本相同，INaP的含量基本相同。（5）當除極化水平≧ - 56mv時，I4-AP在2類興奮性神經元中的平均幅值明顯地小於在3類興奮性神經元中的（P＜0.05）；而INaP在2類興奮性神經元中的平均幅值明顯地大於在3類興奮性神經元中的（P＜0.05）。（6）ION-CCI模型組TG上Kv1.2的mRNA含量較結紮對側、假手術組及空白組明顯下調；Nav1.3的mRNA含量較結紮對側、假手術組及空白組明顯上調。（7）ION-CCI模型眶下神經結紮後，TG上Kv1.2的蛋白含量較結紮對側、假手術組及空白組明顯減少；Nav1.3的蛋白含量較結紮對側、假手術組及空白組明顯增多。該結果將痛行為學、離子通道及分子生物學機制緊密結合，深入闡明觸摸刺激何以引起TN發作的細胞分子機制，闡明TN發作的本質過程，重新認識神經元興奮性分類與轉型的複雜性變化規律，為臨床篩選抑制觸誘發痛發作的理想鎮痛藥物提供特異的分子靶點，進而為臨床阻止TN的發作提供新的策略導向。
