：α徑跡蝕刻測量又稱徑跡找礦法。是通過測量氡及其子體產生的α徑跡來尋找深部鈾礦的新技術。其原理是套用α粒子穿過物質時可在物質中留下痕跡，其痕跡的數量與放射性礦物含量成正比。具體做法是用硝酸纖維薄膜，或醋酸纖維薄膜等核徑跡探測器來記錄α粒子在探測器上產生的痕跡。
基本介紹
- 中文名：α徑跡蝕刻測量
- 外文名：alpha-track etch survey
- 學科：核地質學
- 時間：20～30天
學科：核地質學
詞目：α徑跡蝕刻測量
英文：alpha-track etch survey
釋文經化學腐蝕和鏡下觀察或掃描記錄，計算探測器上由於α粒子轟擊而產生的徑跡的密度，進而判斷深部鈾礦是否存在。野外工作時是將薄膜（如膠片）固定於杯子內，倒置於測點下30～50厘米處，經20～30天照射後取出，進行化學蝕刻，計算徑跡密度。其特點是：探測深度大可達100米以上，這是由於它是採用積累法測量α粒子之故。徑跡蝕刻測量廣泛套用於其他領域。
